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应用多物理场仿真方法为高频、高速电子设备铺平安全运行之路

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更新日期：2025-02-07 13:54
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详细介绍

本文将对电子设备的隐形杀手--间歇性失效的挑战及难点与应对作分析，并由此对应用多物理场仿真方法为实现高频、高速电子设备铺平安全运行之路作研讨。与此同时以电磁场仿真的重要发展为例，以帮助实现设计创新作说明。

电子设备无处不在！毋庸置疑，智能手机和计算机是我们生活中最常见的例子，而且，汽车、银行业、飞机、零售以及众多其他应用中也不乏电子产品的影子。物联网(IoT)方兴未艾，现在的家用电器甚至也实现了电子控制与联网功能。在享受电子产品所带来的便利与高效的同时，我们也越来越依赖嵌入式电子系统。如果这些系统出现故障或失效，不但会带来不便，而且在某些情况下甚至会导致造成生命财产的安全问题。由此引发并带来电子设备设计的复杂性也随之大幅提高。如果不采用高级电子仿真技术研发出可靠产品，就无法提高电子产品的可靠性。然而电子产品的可靠性涉及多个方面，其中电子设备的隐形杀手--间歇性失效已成为最大的隐患。它已成为高频、高速电子设备铺平安全运行之路的障碍。

而近多年来高级电子仿真呈现可以实现设计探索，其不但面向普通的运行功能，而且还具有产品整个生命周期的可靠运行的能力。

为此首先要对电子设备的隐形杀手--间歇性失效分析作为问题提出加以论述。

所示为失效模式类型