Aeroflex新增的LTE TDD测试套件扩展其PXI 3000系列模块化仪器功能
2011-04-07 14:34:06 来源:大比特半导体器件网 点击:1104
【哔哥哔特导读】Aeroflex控股公司旗下的全资子公司Aeroflex有限公司日前宣布:针对其PXI3000模块化仪器系列推出一款新型软件测量套件,以支持3GPP长期演进计划(LTE)的时分双工(TDD)模式— 也称为TD-LTE。
摘要: Aeroflex控股公司旗下的全资子公司Aeroflex有限公司日前宣布:针对其PXI3000模块化仪器系列推出一款新型软件测量套件,以支持3GPP长期演进计划(LTE)的时分双工(TDD)模式— 也称为TD-LTE。
Aeroflex控股公司(纽约证券交易所:ARX)旗下的全资子公司Aeroflex有限公司日前宣布:针对其PXI3000模块化仪器系列推出一款新型软件测量套件,以支持3GPP长期演进计划(LTE)的时分双工(TDD)模式— 也称为TD-LTE。通过支持此项标准,Aeroflex确定了其在模块化仪器方面的领导地位,可为多种通信标准提供业界最全面的低成本PXI硬件和软件。
LTE TDD测量套件提供LTE TDD芯片组、手机和终端设备制造商所需的先进的测试功能,以帮助他们快速地表征设备性能。结合PXI 3000射频仪器和现有的LTE TDD测量套件,Aeroflex现在能够为运行在LTE 3GPP TDD和FDD频带上的LTE设备提供全面的射频参数测试功能。
LTE TDD测量套件能够支持所有的上行链路和下行链路配置,其中还包括3GPP 36.211中第4.2节所定义的特殊子帧配置。针对从1.4 MHz 到20 MHz的所有带宽以及QPSK、QAM16 和QAM64调制类型,LTE分析器都能支持上行链路(SC-FDMA)传输。除了数值化测量结果,该测量套件还能够为频谱发射模板、互补累积分布函数(CCDF)、星座图、EVM对载波(EVM vs. Carrier) 和EVM对符号( EVM vs. Symbol)提供追踪显示功能。针对上行链路信号的EVM分析可支持PUSCH、SRS 和PUCCH。
PXI 3000 LTE TDD测量套件已经在Aeroflex TM500 TD-LTE标准测试手机上进行过测试和验证,反应出Aeroflex独有的从网络基础设施到用户设备的LTE TDD端到端测试能力。在PXI 3000上增加LTE TDD功能完善了Aeroflex针对这一重要标准所提供的从研发一直到验证、服务和制造的产品系列。
“PXI 3000已经被打造成为LTE和多种无线技术及标准测试设备市场的领导者。” Aeroflex测试解决方案产品经理 Tim Carey说:“Aeroflex致力于帮助客户将LTE TDD设备推向市场。这款最新的软件选配件将确保他们采用现有的模块化生产测试装置,来测试支持3GPP LTE TDD模式的各种设备。这些设备现正处于研发之中,并准备在中国推出首个TD-LTE网络。”
本文为哔哥哔特资讯原创文章,未经允许和授权,不得转载,否则将严格追究法律责任;
美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布了针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙技术的测试解决方案,结合了NI图形化系统设计软件和基于FPGA的PXI模块化仪器,提供了可完全用户自定义的高性能测试能力。这些测试解决方案结合NI提供的包括手机测试、导航仪测试和无线连接测试在内的其他解决方案,可以有效地帮助工程师在一个单一的高性能平台上全面的测试他们的设
第一时间获取电子制造行业新鲜资讯和深度商业分析,请在微信公众账号中搜索“哔哥哔特商务网”或者“big-bit”,或用手机扫描左方二维码,即可获得哔哥哔特每日精华内容推送和最优搜索体验,并参与活动!
发表评论