新型X线显微镜可观测细胞内结构
2009-01-06 11:22:59 来源:美迪医疗网
【哔哥哔特导读】日本理化研究所的研究人员在去年12月30日出版的美国《物理评论通讯》网络版上发表论文说,他们研制的一种新型X射线显微镜能对细胞内部结构进行立体观测,这一成果有望在分析蛋白内部结构,协助新药研发方面发挥作用。
日本理化研究所的研究人员在去年12月30日出版的美国《物理评论通讯》网络版上发表论文说,他们研制的一种新型X射线显微镜能对细胞内部结构进行立体观测,这一成果有望在分析蛋白内部结构,协助新药研发方面发挥作用。
研究人员说,这种新型显微镜利用了X射线相干散射成像原理,用波峰和波谷都非常有规则的X射线照射细胞,通过检测穿过细胞的X射线波形的细微变化,就能得到反映细胞内部结构的立体图像。理化研究所的研究人员尝试用这种新型显微镜成功对人的染色体内部结构进行了立体观测。
此前研究人员要观测细胞内部结构时,必须要向细胞内注入作为标记的荧光蛋白,还需将标本切片,以便适合普通电子显微镜观测。有了这种新型显微镜,研究人员无需破坏细胞标本就能对其内部进行观测。
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采用传统固相法制备稀土氧化物Gd2O3掺杂的ZnO压敏陶瓷。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和压敏电阻直流参数仪对样品的物相、显微组织及电性能进行分析。结果表明:随着Gd2O3掺杂量的增加,ZnO压敏陶瓷电位梯度单调递增,非线性系数先增加后减小,而漏电流呈现先减小后增大的变化趋势。
采用传统固相法制备稀土氧化物Gd2O3掺杂的ZnO压敏陶瓷。采用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和压敏电阻直流参数仪对样品的物相、显微组织及电性能进行分析。结果表明:随着Gd2O3掺杂量的增加,ZnO压敏陶瓷电位梯度单调递增,非线性系数先增加后减小,而漏电流呈现先减小后增大的变化趋势。
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