膜厚仪|测试仪

Bowman博曼膜厚测试仪设备遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际

标准，主要基于WinFTM? V6L核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析

的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental

Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及强大的

电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测

量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测

量。仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表

面积或超薄镀层的测量。
可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
Bowman博曼膜厚测应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.

让客户满意，为客户创造最大的价值是金东霖追求的目标，因为我们

坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴

、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系

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